Testsystem und Tochtereinheit
EP2189800
Art A1
26. Mai 2010
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2189800
- Aktenzeichen
- EP08827732
- Anmeldetag
- 6. August 2008
- Veröffentlichung
- 26. Mai 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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