Prüfbare Integrierte Schaltung und Prüfverfahren
EP2191285
Art A1
2. Juni 2010
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2191285
- Aktenzeichen
- EP08763256
- Anmeldetag
- 9. Juni 2008
- Veröffentlichung
- 2. Juni 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/317H01L23/50
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
7.918 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Williamson, Paul Lewis
Eindhoven, Niederlande
1.451
Patente gesamt
19
Fachgebiete
11
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