Verfahren zum Einfangen von Implantationsbeschädigungen in einem Halbleitersubstrat

EP2208220 Art A1 21. Juli 2010

Anmelder: Synopsys, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2208220
Aktenzeichen
EP08782523
Anmeldetag
30. Juli 2008
Veröffentlichung
21. Juli 2010
Rechtsraum
EP
IPC
H01L21/265H01L29/772
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Synopsys, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Synopsys

Synopsys ist ein US-amerikanischer Anbieter von Software für den Chip- und Systementwurf (EDA) mit Sitz in Kalifornien. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Software und Datenverarbeitung sowie Halbleiter und elektrische Bauelemente, ergänzt durch Optik und Elektronik für Entwurfswerkzeuge. Anmeldungen reichen von 2000 bis in die Gegenwart.

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