Zweidimensionale Optische Bildgebungsverfahren zum Partikelnachweis
EP2232229
Art B1
17. Februar 2021
Anmelder: Particle Measuring Systems, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2232229
- Aktenzeichen
- EP08856561
- Anmeldetag
- 2. Dezember 2008
- Veröffentlichung
- 17. Februar 2021
- Erteilung
- 17. Februar 2021
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N15/14// G01N15/02G06K9/00G01N15/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Particle Measuring Systems, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
Vertreten von
Shaw, Matthew Nigel
München, Deutschland
185
Patente gesamt
29
Fachgebiete
17
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Forresters IP LLP
Forresters IP LLP · München
-
Ashton, Timothy
NoneMünchen