Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung und Kontrolle einer Metallisierungslösung

EP2240626 Art B1 15. April 2015

Anmelder: Lam Research Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2240626
Aktenzeichen
EP08859699
Anmeldetag
12. Dezember 2008
Veröffentlichung
15. April 2015
Erteilung
15. April 2015
Rechtsraum
EP
IPC
C25D21/12C23C18/16G05D11/13C25D21/14// G01N21/31G01N21/65G01N21/85G01N21/84
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Lam Research Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Lam Research

US-amerikanischer Hersteller von Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie mit Sitz in Fremont, Kalifornien, spezialisiert auf Ätz- und Beschichtungssysteme (Deposition) für die Chipproduktion.

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