Messverfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung eines Halbleiterbauelements
EP2245473
Art B1
29. August 2012
Anmelder: Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., Christian-Albrechts-Universität zu Kiel, Albert-Ludwigs-Universität Freiburg 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2245473
- Aktenzeichen
- EP09712988
- Anmeldetag
- 23. Februar 2009
- Veröffentlichung
- 29. August 2012
- Erteilung
- 29. August 2012
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/26H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
Christian-Albrechts-Universität zu Kiel
Albert-Ludwigs-Universität Freiburg - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Fraunhofer-Gesellschaft
Deutsche gemeinnützige Forschungsorganisation mit Sitz in München. Betreibt anwendungsorientierte Forschung in Technik und Naturwissenschaften über zahlreiche Institute für Industrie und Gesellschaft.
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🇩🇪
Albert-Ludwigs-Universität Freiburg
Deutsche Universität in Freiburg im Breisgau mit Forschung und Lehre in zahlreichen Fachbereichen, darunter Naturwissenschaften, Medizin und Mikrosystemtechnik.
533 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Dicker, Jochen
Karlsruhe, Deutschland
10
Patente gesamt
9
Fachgebiete
4
Anmelder-Länder
Schwerpunkte