Messvorrichtung und -methode zur Absolutwinkelmessung

EP2251647 Art A1 17. November 2010

Anmelder: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2251647
Aktenzeichen: EP09160118
Anmeldetag: 13. Mai 2009
Veröffentlichung: 17. November 2010
Rechtsraum: EP
IPC: G01D5/347

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement

CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique ist ein Schweizer Forschungsinstitut für Mikrotechnik, Elektronik und angewandte Wissenschaften. Der Patentbestand konzentriert sich auf Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiter-, Medizin- und Optiktechnik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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