Gasfeldionenquelle mit Beschichteter Spitze

EP2263248 Art B1 4. Mai 2016

Anmelder: Carl Zeiss Microscopy, LLC, Carl Zeiss SMT, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2263248
Aktenzeichen: EP09716494
Anmeldetag: 13. Februar 2009
Veröffentlichung: 4. Mai 2016
Erteilung: 4. Mai 2016
Rechtsraum: EP
IPC: H01J37/28H01J49/16H01J37/08H01J27/26H01J37/065H01J37/26H01J37/30

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: Carl Zeiss Microscopy, LLC
Carl Zeiss SMT, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇩🇪 Carl Zeiss Microscopy GmbH

Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.

564 Patente in unserer Datenbank

🇩🇪 Carl Zeiss SMT

Deutsches Unternehmen der Carl Zeiss Gruppe mit Sitz in Oberkochen, das optische Systeme und Lithographieoptiken für die Halbleiterindustrie entwickelt.

1.949 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Vertreten von