Endoskopsystem, Endoskop und Verfahren zum Messen der Distanz und Beleuchtungswinkel
EP2263520
Art A1
22. Dezember 2010
Anmelder: Fujifilm Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2263520
- Aktenzeichen
- EP10166288
- Anmeldetag
- 17. Juni 2010
- Veröffentlichung
- 22. Dezember 2010
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- A61B1/07A61B5/107G01B11/02A61B1/05A61B5/00// A61B1/04A61B1/045
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Fujifilm Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fujifilm
Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.
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Vertreten von
-
Hoffmann Eitle
Hoffmann Eitle · München