Endoskopsystem, Endoskop und Verfahren zum Messen der Distanz und Beleuchtungswinkel

EP2263520 Art A1 22. Dezember 2010

Anmelder: Fujifilm Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2263520
Aktenzeichen
EP10166288
Anmeldetag
17. Juni 2010
Veröffentlichung
22. Dezember 2010
Rechtsraum
EP
IPC
A61B1/07A61B5/107G01B11/02A61B1/05A61B5/00// A61B1/04A61B1/045
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Fujifilm Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Fujifilm

Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.

21.764 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen