Verfahren zum Kalibrieren einer Ablenkeinheit in einem Tirf-Mikroskop, Tirf-Mikroskop und Verfahren zu dessen Betrieb
EP2271961
Art B1
13. September 2017
Anmelder: Carl Zeiss Microscopy GmbH, Carl Zeiss MicroImaging GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2271961
- Aktenzeichen
- EP09737854
- Anmeldetag
- 25. April 2009
- Veröffentlichung
- 13. September 2017
- Erteilung
- 13. September 2017
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/16G01N21/27
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Carl Zeiss Microscopy GmbH
Carl Zeiss MicroImaging GmbH - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.
609 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Schiffer, Axel Martin
München, Deutschland
239
Patente gesamt
29
Fachgebiete
9
Anmelder-Länder
Schwerpunkte