Verfahren zur Herstellung von SI(1-V-W-X)cwalxnv-Basismaterial, Verfahren zur Herstellung eines Epitaktischen Wafers, SI(1-V-W-X)cwalxnv-Basismaterial und Epitaktischer Wafer
EP2276061
Art A1
19. Januar 2011
Anmelder: Sumitomo Electric Industries, Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2276061
- Aktenzeichen
- EP09735517
- Anmeldetag
- 17. April 2009
- Veröffentlichung
- 19. Januar 2011
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- C30B29/38C30B23/08C30B29/40C30B29/36C30B25/02C30B23/02C23C14/06C23C14/28C23C16/34C23C4/18H01L21/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Sumitomo Electric Industries, Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Sumitomo Electric Industries
Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Osaka, Teil der Sumitomo-Gruppe. Aktiv in Kabel- und Glasfasertechnologie, Halbleitern, Automobilkomponenten sowie Elektronik- und Werkstofftechnik.
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