Teilchenanalysegerät zur Formanalyse

EP2302356 Art A2 30. März 2011

Anmelder: SYSMEX CORPORATION 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2302356
Aktenzeichen: EP10180075
Anmeldetag: 27. September 2010
Veröffentlichung: 30. März 2011
Rechtsraum: EP
IPC: G01N15/14

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: SYSMEX CORPORATION
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Sysmex

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Kobe, spezialisiert auf Entwicklung und Herstellung von Labordiagnostik- und Analysegeräten, insbesondere für Hämatologie und klinische Chemie.

921 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von