Schablone und Verfahren zur Messung von Unrundheiten von Flanschoberflächen einer Nabeneinheit
EP2306170
Art B1
7. März 2018
Anmelder: JTEKT Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2306170
- Aktenzeichen
- EP09800396
- Anmeldetag
- 22. Juli 2009
- Veröffentlichung
- 7. März 2018
- Erteilung
- 7. März 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B5/255B60B27/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- JTEKT Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JTEKT
Japanischer Konzern aus Nagoya, hervorgegangen aus Koyo Seiko und Toyoda Machine Works, tätig in Lenksystemen, Wälzlagern und Werkzeugmaschinen für Automobil- und Industrieanwendungen.
3.511 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Schaeberle, Steffen
München, Deutschland
770
Patente gesamt
32
Fachgebiete
12
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Schwerpunkte
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-
Hoefer & Partner Patentanwälte mbB
Hoefer & Partner Patentanwälte mbB · München