Verfahren zur Verbesserung der Zuverlässigkeit eines P-Kanal-Halbleiterbauelements und damit hergestelltes P-Kanal-Halbleiterbauelement
EP2309543
Art B1
9. Mai 2012
Anmelder: IMEC, Katholieke Universiteit Leuven 🇧🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2309543
- Aktenzeichen
- EP10186985
- Anmeldetag
- 8. Oktober 2010
- Veröffentlichung
- 9. Mai 2012
- Erteilung
- 9. Mai 2012
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L29/10H01L29/51// H01L29/49
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- IMEC
Katholieke Universiteit Leuven - Land
- 🇧🇪 Belgien
🇧🇪
Katholieke Universiteit Leuven
Belgische Universität in Leuven mit umfangreicher Forschung in Naturwissenschaften, Technik und Medizin, die auch Patente aus Forschungsprojekten hervorbringt.
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Hertoghe, Kris Angèle Louisa
Winksele, Belgien
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