Verfahren zur Verbesserung der Zuverlässigkeit eines P-Kanal-Halbleiterbauelements und damit hergestelltes P-Kanal-Halbleiterbauelement

EP2309543 Art B1 9. Mai 2012

Anmelder: IMEC, Katholieke Universiteit Leuven 🇧🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2309543
Aktenzeichen
EP10186985
Anmeldetag
8. Oktober 2010
Veröffentlichung
9. Mai 2012
Erteilung
9. Mai 2012
Rechtsraum
EP
IPC
H01L29/10H01L29/51// H01L29/49
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen
IMEC
Katholieke Universiteit Leuven
Land
🇧🇪 Belgien
🇧🇪 Katholieke Universiteit Leuven

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