Vorrichtung und Verfahren zur Untersuchung von Proben
EP2312302
Art A1
20. April 2011
Anmelder: JEOL LTD., JEOL Ltd., Jeol System Technology Co., Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2312302
- Aktenzeichen
- EP10250397
- Anmeldetag
- 5. März 2010
- Veröffentlichung
- 20. April 2011
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/225H01J37/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- JEOL LTD.
JEOL Ltd.
Jeol System Technology Co., Ltd. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JEOL
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.
288 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Cross, Rupert Edward Blount
London, Großbritannien
2.091
Patente gesamt
33
Fachgebiete
17
Anmelder-Länder
Schwerpunkte