Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Höhe einer Reihe räumlicher Positionen auf einer Probe, die ein Profil einer Oberfläche mithilfe der Weißlicht-Interferometrie definieren
EP2314982
Art B1
2. Dezember 2020
Anmelder: Mitutoyo Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2314982
- Aktenzeichen
- EP09173518
- Anmeldetag
- 20. Oktober 2009
- Veröffentlichung
- 2. Dezember 2020
- Erteilung
- 2. Dezember 2020
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B9/02G01B9/04
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Mitutoyo Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Mitutoyo Corporation
Mitutoyo ist ein japanischer Hersteller von Präzisionsmessgeräten mit Sitz in Kawasaki. Die Patente betreffen Messtechnik, Koordinatenmessgeräte und Sensorik.
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Fachgebiete
Vertreten von
Eveleens Maarse, Pieter
Den Haag, Niederlande
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