Parallelausleger-Deflektionsmessung

EP2336789 Art A1 22. Juni 2011

Anmelder: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2336789
Aktenzeichen: EP09180213
Anmeldetag: 21. Dezember 2009
Veröffentlichung: 22. Juni 2011
Rechtsraum: EP
IPC: G01Q20/02G01B9/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement

CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique ist ein Schweizer Forschungsinstitut für Mikrotechnik, Elektronik und angewandte Wissenschaften. Der Patentbestand konzentriert sich auf Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiter-, Medizin- und Optiktechnik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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