Verbesserte Mustererkennung für Teilnetzwerke
EP2339789
Art A1
29. Juni 2011
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2339789
- Aktenzeichen
- EP09180815
- Anmeldetag
- 28. Dezember 2009
- Veröffentlichung
- 29. Juni 2011
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04L12/40
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
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