Verfahren und Vorrichtung zum Messen von Inter-Chip-Signalen
EP2341356
Art B1
29. August 2012
Anmelder: Tektronix, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2341356
- Aktenzeichen
- EP10252136
- Anmeldetag
- 16. Dezember 2010
- Veröffentlichung
- 29. August 2012
- Erteilung
- 29. August 2012
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/3185G01R31/319H01L25/065
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tektronix, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Tektronix, Inc.
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
498 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Brinck, David John Borchardt
London, Großbritannien
308
Patente gesamt
23
Fachgebiete
14
Anmelder-Länder
Schwerpunkte