Verfahren und Vorrichtung zum Ableiten von Parametern Optischer Pfade in Optischen Netzwerken unter Verwendung von Zwei Wellenlängen-Otdr und eines Wellenlängenabhängigen Reflektierenden Elements

EP2356760 Art B1 27. Juni 2018

Anmelder: EXFO INC. 🇨🇦

Details

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

🇨🇦 EXFO

Kanadisches Unternehmen mit Sitz in Québec, das Test-, Mess- und Überwachungslösungen für Telekommunikationsnetze entwickelt und herstellt.

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Nachrichtentechnik & Telekommunikation

Vertreten von

Karppinen, Olavi Arto Helsinki, Finnland

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Nachrichtentechnik & Telekommunikation Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Elektronik & Schaltungstechnik Medizintechnik & Gesundheit Halbleiter & Elektrische Bauelemente Software & Datenverarbeitung

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