Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Parameter eines Arrays

EP2362485 Art B1 28. April 2021

Anmelder: Raytheon Company 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2362485
Aktenzeichen
EP11155587
Anmeldetag
23. Februar 2011
Veröffentlichung
28. April 2021
Erteilung
28. April 2021
Rechtsraum
EP
IPC
G01S13/06H01Q3/46H01Q3/26H01Q21/00// G01S7/40G01S13/02H01Q15/02
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Raytheon Company
Land
🇺🇸 USA

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik
Vertreten von
Sokolowski, Fabian Berlin, Deutschland
81
Patente gesamt
25
Fachgebiete
9
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente Fahrzeugtechnik (Automobil, Bahn & Schiff) Verpackungs- & Fördertechnik Verfahrens- & Trenntechnik
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