Einfache und Stabile Referenz für Ir-Drop- und Versorgungsrauschmessungen

EP2374014 Art B1 5. März 2014

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2374014
Aktenzeichen
EP09764073
Anmeldetag
18. November 2009
Veröffentlichung
5. März 2014
Erteilung
5. März 2014
Rechtsraum
EP
IPC
G01R31/30G01R19/165
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
NXP B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

7.918 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen