3D-Abbildungssystem und Verfahren mit kurzkohärenter Speckle Interferenz-Tomografie
EP2375216
Art B1
13. August 2014
Anmelder: Raytheon Company 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2375216
- Aktenzeichen
- EP11152555
- Anmeldetag
- 28. Januar 2011
- Veröffentlichung
- 13. August 2014
- Erteilung
- 13. August 2014
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/24G06K9/20G06K9/00G01B9/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Raytheon Company
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Raytheon Company
US-amerikanisches Rüstungs- und Technologieunternehmen mit Sitz in Massachusetts, heute Teil von RTX Corporation. Entwickelt Verteidigungssysteme, Radartechnik, Flugabwehr, Sensorik und Luftfahrtelektronik.
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Vertreten von
Desormiere, Pierre-Louis
Paris, Frankreich
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