Test- und Messvorrichtung, System und Verfahren zur Bereitstellung von synchronisierten Messansichten
EP2375768
Art B1
8. Februar 2017
Anmelder: Tektronix, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2375768
- Aktenzeichen
- EP11161204
- Anmeldetag
- 5. April 2011
- Veröffentlichung
- 8. Februar 2017
- Erteilung
- 8. Februar 2017
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04N17/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tektronix, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Tektronix, Inc.
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
498 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Clarke, Jeffrey David
Sheffield, Großbritannien
394
Patente gesamt
17
Fachgebiete
6
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
HGF
HGF · München
-
Clarke, Jeffrey
NoneSheffield