Verfahren und Vorrichtung zum Messen von Symbol- und Bitfehlerraten in Unabhängigkeit von Disparitätsfehlern
EP2383925
Art A3
5. April 2017
Anmelder: Tektronix, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2383925
- Aktenzeichen
- EP11250497
- Anmeldetag
- 27. April 2011
- Veröffentlichung
- 5. April 2017
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04L1/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tektronix, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Tektronix, Inc.
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
498 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Clarke, Jeffrey
Sheffield, Großbritannien
412
Patente gesamt
15
Fachgebiete
11
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
HGF
HGF · München
-
Brinck, David John Borchardt
NoneLondon