System und Verfahren zur Prüfung eines Wafers

EP2387794 Art B1 9. April 2025

Anmelder: Semiconductor Technologies & Instruments Pte Ltd. 🇸🇬

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2387794
Aktenzeichen
EP10731444
Anmeldetag
13. Januar 2010
Veröffentlichung
9. April 2025
Erteilung
9. April 2025
Rechtsraum
EP
IPC
G01N21/95G01N21/88G06T7/00// H01L21/66
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Semiconductor Technologies & Instruments Pte Ltd.
Land
🇸🇬 Singapur

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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