System zur Prüfung eines Wafers
EP2387795
Art B1
16. April 2025
Anmelder: Semiconductor Technologies & Instruments Pte Ltd. 🇸🇬
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2387795
- Aktenzeichen
- EP10731445
- Anmeldetag
- 13. Januar 2010
- Veröffentlichung
- 16. April 2025
- Erteilung
- 16. April 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/95G01N21/88
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Semiconductor Technologies & Instruments Pte Ltd.
- Land
- 🇸🇬 Singapur
Fachgebiete
Vertreten von
-
Adamson Jones
Adamson Jones · Nottingham
-
Bettinger Schneider Schramm
Bettinger Schneider Schramm · München