Verfahren zum Zerlegen und Analysieren von Jitter mithilfe von Spektralanalyse und Zeitbereichswahrscheinlichkeitsdichte
EP2390789
Art B1
1. Mai 2013
Anmelder: Tektronix, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2390789
- Aktenzeichen
- EP11250550
- Anmeldetag
- 25. Mai 2011
- Veröffentlichung
- 1. Mai 2013
- Erteilung
- 1. Mai 2013
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F11/25G01R31/317G01R31/3193
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tektronix, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Tektronix, Inc.
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
498 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Clarke, Jeffrey David
Sheffield, Großbritannien
394
Patente gesamt
17
Fachgebiete
6
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Clarke, Jeffrey
NoneSheffield
-
Brinck, David John Borchardt
NoneLondon