Schleifstrahl-Konturbearbeitung zur Entfernung von Rissbildung auf einer Oberfläche oder nahe einer Oberfläche

EP2394788 Art A1 14. Dezember 2011

Anmelder: United Technologies Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2394788
Aktenzeichen
EP11167875
Anmeldetag
27. Mai 2011
Veröffentlichung
14. Dezember 2011
Rechtsraum
EP
IPC
B24C1/08
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
United Technologies Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 RTX Corporation

US-amerikanischer Luft- und Raumfahrt- sowie Verteidigungskonzern, entstanden aus Raytheon und United Technologies. Entwickelt und fertigt Triebwerke, Avionik, Radarsysteme, Raketen- und Verteidigungstechnik für zivile und militärische Kunden.

10.206 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen