Simultanes Prüfen von Halbleiterkomponenten auf einem Wafer
EP2397862
Art A3
8. August 2012
Anmelder: Broadcom Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2397862
- Aktenzeichen
- EP11004345
- Anmeldetag
- 26. Mai 2011
- Veröffentlichung
- 8. August 2012
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/319G01R31/28G01R31/302G01R31/303G01R31/317
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Broadcom Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Broadcom
US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Fokus auf Kommunikations-, Netzwerk- und Speicherchips. Die ursprüngliche Broadcom Corporation ging 2016 in der heutigen Broadcom Inc. auf.
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Jehle, Volker Armin
München, Deutschland
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