Überwachungssystem und Verfahren zur Glättung einer Laserreferenzplane in dem Überwachungssystem
EP2400265
Art B1
13. Januar 2016
Anmelder: Kabushiki Kaisha Topcon 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2400265
- Aktenzeichen
- EP11741400
- Anmeldetag
- 11. April 2011
- Veröffentlichung
- 13. Januar 2016
- Erteilung
- 13. Januar 2016
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01C15/00G05D1/02E02F3/84
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Kabushiki Kaisha Topcon
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Kabushiki Kaisha Topcon
Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.
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Vertreten von
Köhler, Walter
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