Verfahren und Vorrichtung zum Präzisen Messen eines Intensitätsprofils eines Röntgen-Nanostrahls
EP2402789
Art B1
2. September 2015
Anmelder: JTEC Corporation, Osaka University 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2402789
- Aktenzeichen
- EP09840815
- Anmeldetag
- 19. März 2009
- Veröffentlichung
- 2. September 2015
- Erteilung
- 2. September 2015
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N23/201// G21K1/06G21K7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- JTEC Corporation
Osaka University - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Osaka University
Staatliche Universität in Osaka, Japan, eine der führenden Forschungsuniversitäten des Landes mit Schwerpunkten in Naturwissenschaften, Medizin und Ingenieurwesen.
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Vertreten von
Heunemann, Dieter
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