Optisches Dreidimensionales Strukturmessgerät und Strukturinformationsverarbeitungsverfahren Dazu

EP2409650 Art B1 7. Mai 2014

Anmelder: TOPCON CORPORATION, FUJIFILM Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2409650
Aktenzeichen
EP10753408
Anmeldetag
3. März 2010
Veröffentlichung
7. Mai 2014
Erteilung
7. Mai 2014
Rechtsraum
EP
IPC
A61B10/00A61B1/00A61B1/04G01B11/24G01N21/17G01B9/02A61B5/00G01N21/47
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen
TOPCON CORPORATION
FUJIFILM Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Topcon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Topcon entwickelt Präzisionsmessgeräte, GPS- und Vermessungstechnik sowie optische Instrumente für Bauwesen, Landwirtschaft und Augenheilkunde.

489 Patente in unserer Datenbank

🇯🇵 Fujifilm

Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.

12.204 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen