Absolute Entfernung messendes Interferometer mit fester Wellenlänge

EP2418456 Art B1 27. März 2013

Anmelder: Mitutoyo Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2418456
Aktenzeichen
EP11177104
Anmeldetag
10. August 2011
Veröffentlichung
27. März 2013
Erteilung
27. März 2013
Rechtsraum
EP
IPC
G01B9/02G01B11/02
Offizieller Volltext

Abstract

A fixed wavelength absolute distance interferometer including a first interferometer comprising a first light source transmitting a first light beam having a wavelength W toward a measurement target, a wavefront radius detector configured to provide a first measurement responsive to the wavefront radius at the wavefront radius detector, and a first path length calculating portion calculating a coarse resolution absolute path length measurement R; and a second interferometer comprising a beam transmitting device transmitting a second-interferometer light beam having a wavelength A, a beam splitting/combining device separating the second-interferometer light beam into reference and measurement beams and combining the returning reference and measurement beams into a combined beam, a second-interferometer detector configured to receive the combined beam and provide signals of a phase Õ of the combined beam, and a second path length calculating portion configured to determine a medium resolution absolute path length measurement Z M .

Anmelder

Firma
Mitutoyo Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Mitutoyo Corporation

Mitutoyo ist ein japanischer Hersteller von Präzisionsmessgeräten mit Sitz in Kawasaki. Die Patente betreffen Messtechnik, Koordinatenmessgeräte und Sensorik.

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