System zum Erzeugen von testbestimmten Testmustern
EP2424263
Art B1
1. Juli 2015
Anmelder: Tektronix, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2424263
- Aktenzeichen
- EP11176031
- Anmeldetag
- 29. Juli 2011
- Veröffentlichung
- 1. Juli 2015
- Erteilung
- 1. Juli 2015
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04N17/04
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tektronix, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Tektronix, Inc.
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
498 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Clarke, Jeffrey David
Sheffield, Großbritannien
394
Patente gesamt
17
Fachgebiete
6
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Clarke, Jeffrey
NoneSheffield