Abtastsytem für kapazitive Beschleunigungs- und Dehnungssensoren auf MEMS-Basis und Abtastverfahren
Anmelder: Stichting IMEC Nederland 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2428774
- Aktenzeichen
- EP10176693
- Anmeldetag
- 14. September 2010
- Veröffentlichung
- 29. Mai 2013
- Erteilung
- 29. Mai 2013
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01D5/24// G01L9/12G01P15/125
Abstract
The invention relates to a method and an electronic readout circuit (50) for measuring a capacitance of a MEMs sensor (90), the readout circuit comprising: an input stage (10) for receiving a first signal (14) from the sensor and for presenting a second signal (17); a charge amplifier stage (20) for amplifying and integrating the second signal; control logic (70) for controlling the readout circuit according to a predefined timing relation synchronized to actuation voltages (51, 52) applied to the sensor for generating the first signal; the readout circuit further comprising: a first switching means (12) for applying a first reference voltage to the sensor; a second switching means (16) for applying the second signal to the charge amplifier stage; the first and the second switching means (12, 16) being controlled according to the predefined timing relation such that a plurality of the second signals are accumulated.
Anmelder
- Firma
- Stichting IMEC Nederland
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
Stichting IMEC Nederland ist die niederländische Tochtergesellschaft des belgischen Forschungsinstituts IMEC für Nano- und Mikroelektronik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik, Mess- und Prüftechnik sowie Elektronik und Nachrichtentechnik, unter anderem im Bereich Neurostimulation. Anmeldungen laufen seit 2007 bis in die Gegenwart.
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Fachgebiete
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Sarlet, Steven Renaat Irène
NoneDiegem