Abtastsytem für kapazitive Beschleunigungs- und Dehnungssensoren auf MEMS-Basis und Abtastverfahren

EP2428774 Art B1 29. Mai 2013

Anmelder: Stichting IMEC Nederland 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2428774
Aktenzeichen
EP10176693
Anmeldetag
14. September 2010
Veröffentlichung
29. Mai 2013
Erteilung
29. Mai 2013
Rechtsraum
EP
IPC
G01D5/24// G01L9/12G01P15/125
Offizieller Volltext

Abstract

The invention relates to a method and an electronic readout circuit (50) for measuring a capacitance of a MEMs sensor (90), the readout circuit comprising: an input stage (10) for receiving a first signal (14) from the sensor and for presenting a second signal (17); a charge amplifier stage (20) for amplifying and integrating the second signal; control logic (70) for controlling the readout circuit according to a predefined timing relation synchronized to actuation voltages (51, 52) applied to the sensor for generating the first signal; the readout circuit further comprising: a first switching means (12) for applying a first reference voltage to the sensor; a second switching means (16) for applying the second signal to the charge amplifier stage; the first and the second switching means (12, 16) being controlled according to the predefined timing relation such that a plurality of the second signals are accumulated.

Anmelder

Firma
Stichting IMEC Nederland
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 Stichting IMEC Nederland

Stichting IMEC Nederland ist die niederländische Tochtergesellschaft des belgischen Forschungsinstituts IMEC für Nano- und Mikroelektronik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik, Mess- und Prüftechnik sowie Elektronik und Nachrichtentechnik, unter anderem im Bereich Neurostimulation. Anmeldungen laufen seit 2007 bis in die Gegenwart.

341 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen