Messvorrichtung und -Methode zur Absolutwinkelmessung

EP2430403 Art B1 21. August 2013

Anmelder: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2430403
Aktenzeichen: EP10718231
Anmeldetag: 12. Mai 2010
Veröffentlichung: 21. August 2013
Erteilung: 21. August 2013
Rechtsraum: EP
IPC: G01D5/347

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement
Land: 🇨🇭 Schweiz

🇨🇭 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement

CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique ist ein Schweizer Forschungsinstitut für Mikrotechnik, Elektronik und angewandte Wissenschaften. Der Patentbestand konzentriert sich auf Mess- und Prüftechnik sowie Halbleiter-, Medizin- und Optiktechnik.

326 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von