Halbleitertestvorrichtung und Testverfahren für den Halbleiter
EP2437076
Art B1
13. Mai 2015
Anmelder: Fuji Electric Co., Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2437076
- Aktenzeichen
- EP11183041
- Anmeldetag
- 28. September 2011
- Veröffentlichung
- 13. Mai 2015
- Erteilung
- 13. Mai 2015
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/28G01R31/26G01R31/42
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Fuji Electric Co., Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Fuji Electric
Japanischer Elektrotechnikkonzern mit Sitz in Tokio, tätig in den Bereichen Leistungshalbleiter, Energieerzeugungsanlagen und industrielle Automatisierungstechnik.
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