Detektionsverfahren und Detektionsvorrichtung für LED-Chips auf Waferebene und transparente Nadelkarte dafür

EP2439517 Art B1 29. April 2015

Anmelder: Industrial Technology Research Institute 🇹🇼

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2439517
Aktenzeichen: EP11182130
Anmeldetag: 21. September 2011
Veröffentlichung: 29. April 2015
Erteilung: 29. April 2015
Rechtsraum: EP
IPC: G01N21/956G01N21/95G01R31/26

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Industrial Technology Research Institute
Land: 🇹🇼 Taiwan

🇹🇼 Industrial Technology Research Institute

Taiwanisches Forschungsinstitut für angewandte Technologie, entwickelt und überträgt Innovationen aus Elektronik, Materialwissenschaft und Industrietechnik in die Wirtschaft.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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