Beurteilung der Kompetenz von Eizellen

EP2450456 Art A3 1. August 2012

Anmelder: Yale University 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2450456
Aktenzeichen
EP11008194
Anmeldetag
2. November 2007
Veröffentlichung
1. August 2012
Rechtsraum
EP
IPC
C12Q1/68
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Yale University
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Yale University

US-amerikanische private Forschungsuniversität in New Haven, Connecticut, gegründet 1701.

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