Vorrichtung zur Unterstützung der Untersuchung von Streifenmusterbildern, Verfahren zur Unterstützung der Untersuchung von Streifenmusterbildern und Entsprechendes Programm

EP2472469 Art A1 4. Juli 2012

Anmelder: NEC Corporation, NEC Solution Innovators, Ltd., NEC Soft, Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2472469
Aktenzeichen: EP10811976
Anmeldetag: 20. August 2010
Veröffentlichung: 4. Juli 2012
Rechtsraum: EP
IPC: G06T7/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: NEC Corporation
NEC Solution Innovators, Ltd.
NEC Soft, Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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