Verfahren zur Bestimmung eines Standardwertes und seines optimalen Wertes, Inspektionssystem für ein Substrat, auf welches Komponenten bestückt werden, Simulationsmethode und Simulationssystem

EP2477469 Art A3 30. April 2014

Anmelder: Omron Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2477469
Aktenzeichen: EP11186672
Anmeldetag: 26. Oktober 2011
Veröffentlichung: 30. April 2014
Rechtsraum: EP
IPC: H05K13/08G05B23/02

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Omron Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Omron

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Omron entwickelt Automatisierungstechnik, Steuerungen, Sensoren und Robotik für die Industrie sowie elektronische Bauteile und medizintechnische Geräte.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Steuerungs- & Regelungstechnik

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