Verfahren zur Detektion von Rissen in Halbleitersubstraten
EP2494339
Art B2
24. März 2021
Anmelder: SCHOTT AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2494339
- Aktenzeichen
- EP10751799
- Anmeldetag
- 13. August 2010
- Veröffentlichung
- 24. März 2021
- Erteilung
- 24. März 2021
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/95
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- SCHOTT AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
SCHOTT
Deutsches Technologieunternehmen mit Sitz in Mainz, spezialisiert auf Spezialglas und Glaskeramik für Pharma-, Optik-, Elektronik- und Haushaltsanwendungen.
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Vertreten von
Schmidt, Oliver
Wiesbaden, Deutschland
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