Diffraktionsgitter für Röntgen-Talbot-Interferometer, Verfahren zu seiner Herstellung und Röntgen-Talbot-Interferometer
EP2511912
Art B1
13. Juli 2016
Anmelder: Hitachi High-Tech Science Corporation, Seiko Instruments Inc. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2511912
- Aktenzeichen
- EP12164092
- Anmeldetag
- 13. April 2012
- Veröffentlichung
- 13. Juli 2016
- Erteilung
- 13. Juli 2016
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G21K1/10G21K1/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Hitachi High-Tech Science Corporation
Seiko Instruments Inc. - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Seiko Instruments
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Chiba, tätig in den Bereichen Präzisionsinstrumente, Uhren und elektronische Bauteile.
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Vertreten von
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Miller Sturt Kenyon
Miller Sturt Kenyon · London