Transmissionselektronenmikroskop und Testprobenbeobachtungsverfahren
EP2511938
Art A1
17. Oktober 2012
Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2511938
- Aktenzeichen
- EP10835928
- Anmeldetag
- 6. Dezember 2010
- Veröffentlichung
- 17. Oktober 2012
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/244H01J37/09H01J37/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hitachi High-Technologies Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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Vertreten von
Strehl, Peter
München, Deutschland
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