Apparat und Verfahren zur Analyse eines Frequenzspektrums mit Hilfe überlappender Frequenzbänder
EP2515127
Art B1
21. November 2018
Anmelder: Tektronix, Inc., TEKTRONIX, INC. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2515127
- Aktenzeichen
- EP12162742
- Anmeldetag
- 30. März 2012
- Veröffentlichung
- 21. November 2018
- Erteilung
- 21. November 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R23/163G06K15/00G06K17/00H04B17/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Tektronix, Inc.
TEKTRONIX, INC. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Tektronix, Inc.
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
498 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Clarke, Jeffrey
Sheffield, Großbritannien
412
Patente gesamt
15
Fachgebiete
11
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
HGF
HGF · München
-
HGF Limited
HGF Limited · Den Haag
-
Brinck, David John Borchardt
NoneLondon