Zerstörungsfreie Prüfung industrieller Produkte mit Schichtaufbau (z.B. beschichteter Tabletten) unter Verwendung vom Produkt reflektierter elektromagnetischer Strahlung (z.B. im Terahertzbereich)
EP2522985
Art B1
14. Oktober 2015
Anmelder: ADVANTEST Corporation, Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2522985
- Aktenzeichen
- EP12167485
- Anmeldetag
- 10. Mai 2012
- Veröffentlichung
- 14. Oktober 2015
- Erteilung
- 14. Oktober 2015
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/3581G01N21/95G01N21/84
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- ADVANTEST Corporation
Advantest Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
Vertreten von
Haley, Stephen
London, Großbritannien
4.271
Patente gesamt
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Schwerpunkte
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Gill Jennings & Every LLP
Gill Jennings & Every LLP · London
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Smee, Anthony James Michael
NoneLondon