Optisches Messverfahren und Messsystem zum Bestimmen von 3D-Koordinaten auf einer Messobjekt-Oberfläche
EP2527784
Art A1
28. November 2012
Anmelder: Hexagon Technology Center GmbH 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2527784
- Aktenzeichen
- EP11166780
- Anmeldetag
- 19. Mai 2011
- Veröffentlichung
- 28. November 2012
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B11/25G01S17/42G06T7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hexagon Technology Center GmbH
- Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
Hexagon Technology Center
Schweizer Tochterunternehmen der Hexagon-Gruppe, das geistiges Eigentum für Messtechnik, Sensorik und Positionierungslösungen hält, eingesetzt in Vermessung, Industrieautomation und Geodatentechnik.
443 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Gyaja, Christoph Benjamin
Vaduz, Liechtenstein
248
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20
Fachgebiete
10
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