System und Verfahren zur Beurteilung Inhomogener Deformationen in Mehrschichtigen Platten
EP2529182
Art A1
5. Dezember 2012
Anmelder: Soitec 🇫🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2529182
- Aktenzeichen
- EP11705922
- Anmeldetag
- 24. Januar 2011
- Veröffentlichung
- 5. Dezember 2012
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B17/06G01B21/32G03F7/20G01N29/06
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Soitec
- Land
- 🇫🇷 Frankreich
🇫🇷
Soitec
Französischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Bernin, spezialisiert auf Silicon-on-Insulator (SOI) Substrate. Patente decken Halbleitermaterialien und Waferbondtechnik ab.
529 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Breesé, Pierre
Levallois-Perret, Frankreich
722
Patente gesamt
32
Fachgebiete
17
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
IP Trust
IP Trust · Paris
-
Fidal Innovation
Fidal Innovation · Courbevoie
-
Desormiere, Pierre-Louis
NoneParis