Doppelt-Prüfspitzensystem
EP2533055
Art B1
26. Dezember 2018
Anmelder: Tektronix, Inc., TEKTRONIX, INC. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2533055
- Aktenzeichen
- EP12171512
- Anmeldetag
- 11. Juni 2012
- Veröffentlichung
- 26. Dezember 2018
- Erteilung
- 26. Dezember 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R1/067G01R1/073
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Tektronix, Inc.
TEKTRONIX, INC. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Tektronix, Inc.
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
498 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Clarke, Jeffrey
Sheffield, Großbritannien
412
Patente gesamt
15
Fachgebiete
11
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
HGF
HGF · München
-
HGF Limited
HGF Limited · Den Haag
-
Brinck, David John Borchardt
NoneLondon